Röntgenutrustning XDL230/240

FISCHERSCOPE® XDL är en idealisk serie för både enkel och mer avancerad skikttjockleksmätning med röntgenfluorescens (XRF). Mätkammarens storlek passar både små och större artiklar. Mäthuvudet sitter rörligt ovanför kammaren vilket innebär mätriktning uppifrån och ner. Detta medför enkel positionering av objekt även med komplicerad form. Mätning utförs enkelt och snabbt på både ett och flera skikt. Med denna universella skikttjockleksmätare kan även materialsammansättning fås (t ex badanalys). Vanliga användningsområden är inom galvano- och elektropläteringsindustrin.

Media | Dokument


Denna sidan använder cookies, genom att fortsätta godkänner du användandet av cookies.